طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF) دستگاهی است که مورد استفاده برای آنالیز های شیمیایی معمول و غیر مخرب برای سنگ ها، مواد معدنی، رسوبات و مایعات می باشد. آن بر اساس طیف سنجی طول موج پراکنده که شبیه به یک الکترون مایکروپروب (EPMA) هستند کار می کند. با این حال، XRF به طور کلی نمی تواند در نقطه با اندازه معمولی کوچک EPMA (2-5 میکرون) آنالیز نماید، پس از آن به طور معمول برای آنالیز های بالک از فراکسیون بزرگتر از مواد زمین شناسی ، مورد استفاده قرار می گیرد. سهولت نسبی و هزینه کم آماده سازی نمونه و ثبات و سهولت استفاده از طیف سنج اشعه ایکس این روش را یکی از روش های قرار داه است که به طور گسترده برای آنالیزعمده و عناصر کمیاب در سنگ ها، مواد معدنی، و رسوب ها ، مورد استفاده قرار می گیرد.
محتوای مطالب
1.اصول اساسی فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
2.ابزار فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
3.کاربرد های طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
4.عناصر آنالیز شده با دستگاه طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
5.محدودیت های فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
و... ادامه مطلب